不斷發展的設計規模和新材料，使得晶圓級可靠性測試比以往任何時候都更加重要，而可靠性測試和建模的需求也向上游推動，尤其是帶入了研發程序，讓適用範圍更進一步地擴展。

Keithley 也提供了更快速、更靈敏且高度靈活的可靠性測試工具，能降低測試成本，並縮短產品上市的時間。Keithley 4200-SCS 機型參數分析儀和封裝選項，可提供必要的軟硬體設施，以進行快速和完整的裝置特性分析和可靠性測試。

我們的應用專家團隊針對晶圓級可靠性 (WLR) 測試提供了相關的使用量測建議：

WLR測試的加壓量測技術
WLR測試儀器發展趨勢和要求
4200-SCS和4225-PMU機型 — 超快速I-V模組的功能
使用KIITE軟體執行WLR測試
熱載子注入 (HCI) 的衰退
負偏置溫度不穩定性 (NBTI)
電子遷移 (EM)
崩潰電荷 (QBD)